Ferrit C60鐵素體檢測徠卡DM2700M相顯微鏡 Ferrit C60鐵素體檢測徠卡DM2700M相顯微鏡 Ferrit C60鐵素體檢測徠卡DM2700M相顯微鏡 圖像 Leica DM2700 MSteel Ferrit C60Etched, undereutectoid, ferrit-perlite grain structure.
LED brightfield, 500x Brass sampleCoated and annealed
LED brightfield-oblique contrast, 500x Plastic composite materialLED brightfield-oblique contrast, 200x. 3D-like image due to oblique illumination. Ferrit C35Undereutectoid, ferrit-perlite grain structure
LED brightfield-oblique contrast, N Plan 100x Ferrit C35Undereutectoid, ferrit-perlite grain structure
LED brightfield contrast, N Plan 100x - 產(chǎn)品
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徠卡 DM2700 M<:article class=feature sizset="false" sizcache042287276789483963="15 42 146"> 帶有通用 LED 照明的正置材料分析顯微鏡此材料分析顯微鏡由高質(zhì)量的徠卡光學(xué)元件以及的通用白光 LED 照明組成。對(duì)于相學(xué)、地球科學(xué)、法醫(yī)檢查以及材料質(zhì)控和研究來說，它是進(jìn)行所有類型常規(guī)檢查的理想檢查工具。徠卡 DM2700 M 向您展示了顯微鏡高境界的簡單可靠性，還能夠幫助您改進(jìn)工作流程。 |
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